摘 要：针对微弱磁场在越来越多先进领域的广泛应用，但其受到周围环境影响出现毛刺以及跳变的问题也随之而来。本文提出一种基于HMC5883与32位STM32F103结合的微弱磁场测量的硬件设计，以及一种基于三轴球状测量体系的角度补偿校正方法，并且通过MATLAB软件进行线性拟合，来校正微弱磁场受到周围环境影响出现的阶跃跳变。多次实验测试得知，系统可以有效的滤除阶跃跳变和突变现象，即去除周围环境变化对磁场的影响，使测试的磁场数据更加稳定。结果表明：本系统可以测量并且校正受到环境因素影响的微弱磁场。
关键词：磁场测量；磁阻传感器；校正
0 引 [收稿日期：2007-02-01
基金项目：山西省基础研究项目自然科学基金（2013011017-3）
] 言
随着时代的发展以及科技的不断进步，在军事、生物、航空以及医学等领域，微弱磁场的测量已经获得了相当多的应用。并且随着这些领域的不断发展，对微弱磁场精度等技术参数的要求也不断的增加，从而进一步促使了微弱磁场测量技术的进步。针对这些新的要求，本文选用的高精度的磁阻传感器，并且以超低功耗STM32F103为主芯片，提出一种小型化、低功耗、可靠性高的微弱磁场测量系统的硬件设计方法，磁场测量选用霍尼韦尔公司的HMC5883三轴高精度磁阻传感器，并且提出一种通过加速度对磁场进行校正的方法，来校正微弱磁场因为周围环境的影响带来的磁场的变化[1]。
作者：刘阿建