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《半导体技术》2020年05期
 
更新日期:2021-02-03   来源:半导体技术   浏览次数:133   在线投稿
 
 

核心提示:目录趋势与展望集成电路失效定位技术现状和发展趋势陈选龙;王有亮;方建明;林晓玲;倪毅强;329-337+370半导体集成电路一种16bit2.5

 
目录
趋势与展望
集成电路失效定位技术现状和发展趋势陈选龙;王有亮;方建明;林晓玲;倪毅强;329-337+370半导体集成电路
一种16bit2.5GS/s高动态性能数模转换器设计张理振;吴俊杰;刘海涛;沈逸骅;338-344
高精度低噪声的低压差线性稳压器设计王宇星;345-351半导体器件
SiC MOSFET驱动电路设计及特性分析徐建清;高勇;杨媛;孟昭亮;文阳;张乐;352-358+408
石墨烯光电探测器的热场分布董柳笛;王新国;王德波;359-363
GeSn/Ge异质无结型隧穿场效应晶体管王素元;364-370
Si基超薄势垒InAlN/GaN HEMT开关器件小信号模型张静;梁竞贤;来龙坤;徐进;张奕泽;闫江;罗卫军;371-378半导体材料
PVD AlON缓冲层的GaN外延层生长寻飞林;379-382+403
6英寸半绝缘GaAs单晶VGF和VB联合生长技术周春锋;兰天平;边义午;曹志颖;罗惠英;383-389半导体制造技术
不同直径InP晶锭混合加工技术索开南;杨洪星;张伟才;史艳磊;徐森锋;孙聂枫;刘惠生;390-395+408
复合表面活性剂在铜CMP中减少缺陷的作用王聪;刘玉岭;王辰伟;张辉辉;曾能源;罗翀;396-403半导体检测与设备
适于纳米探针电性能测试的SRAM样品制备方法曹守政;庞凌华;钱洪涛;404-408

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